?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?根據需求提供專屬的定制
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?200MHz/100A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?35MHz/500A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?20MHz/500A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?250MHz/500A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?120MHz/500A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?7MHz/500A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?20MHz/1000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?200MHz/1000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?10MHz/2000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?70MHz/400A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?20MHz/5000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?20MHz/5000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?20MHz/5000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?20MHz/5000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?20MHz/10000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?120MHz/2000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?10MHz/5000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?7MHz/5000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?4MHz/20000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?4MHz/20000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?20MHz/2000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?20MHz/25000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?4MHz/50000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?15MHz/20000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?2MHz/50000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?1.5MHz/200000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?1.5MHz/100000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?2MHz/200000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?1.2MHz/500000A
?上升時間短至2納秒
?具有雙重屏蔽功能,以提高抗噪能力
?0.2MHz/500000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?200MHz/500A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?25MHz/500A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?150MHz/500A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?25MHz/500A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?30MHz/500A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?400MHz/15A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?25MHz/500A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?7MHz/500A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?18MHz/1000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?12MHz/1000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?20MHz/5000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?15MHz/5000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?15MHz/5000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?7MHz/5000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?4MHz/5000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?3MHz/50000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?2MHz/50000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?2MHz/50000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?2MHz/50000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?1.5MHz/50000A
?兩部分組成,可以分開夾住被測導體
?高于±1%的測試精度
?1.5MHz/200000A